分立器件测试系统 QT-4100

QT-4100分立器件测试系统，适用于三极管、二极管、齐纳二极管、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化镓）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常规测试）、光电耦合器等产品及晶圆。 可扩展：可控硅测试、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三极管开关时间（TST， TR ，TF， TON）、热阻测试（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等。