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      QT-9000 Series
      大规模集成电路测试系统(Direct Mount) QT-9000
      QT-8000 Series
      数字模拟混合信号IC测试系统(Cable Mount) QT-8100
      数位模拟混合信号IC测试系统(Direct Mount)QT-8200
      大功率增强型混合信号IC测试系统 (Cable Mount)QT-8100HP
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      集成电路测试系统 (Cable Mount)QT-7200
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      分立器件高速测试系统 QT-6000
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      分立器件测试系统 QT-4100
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      QT-3105 TRR

      Test System

      QT-6000 Series分立器件高速测试系统 QT-6000

      分立器件高速测试系统 QT-6000

      应用范围:QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆,可扩展内置电容测试(DC+CAP)、scanbox等。

      特点:
      · 高速测试,UPH>40K
      · 可一拖二实现100% FT+QA并行测试
      · 先进的电容高速测试方案,实现CAP+DC同工位测试
      · 内置UIS测试方案,实现DC+UIS同工位测试
      · LCR精准电容测试,最小测试电容值100fF

      主要技术指标:
      测量精度 电流:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
      电压:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
      电容:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF
      技术指标 最大电流 电压30A /1200V
      电容表测量范围:0.2-300pF(BIAS电压范围0-80V, 1MHz)
      LCR测量范围:0.1pF-0.1uF(BIAS电压范围0-30V, 1MHZ)
      分辨率 16 bit  ADC/DAC
      波形记录 内部示波器

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